
摘要: 针对国家/行业标准缺失的现状,提出“章-条-段-列项”四级结构化检测方案,通过量化案例与对比实验,建立外观、力学、热学、电学、封装及可靠性六类性能的可比数据库,为后续标准制定提供技术依据。
1 实验过程与术语定义
1.1 实验材料
基片:96%Al₂O₃(厚度0.38 mm±0.02 mm)、AlN(热导率≥170 W·m⁻¹·K⁻¹)、ZTA(ZrO₂增韧Al₂O₃,断裂韧性4.5 MPa·m¹/²)。
金属层:TPC-Cu(35 µm)、DBC-Cu(0.30 mm)、DPC-Cu(15 µm)+Ni/Au(3 µm)。
围坝:HTCC-Al₂O₃生瓷带(厚度0.20 mm)、银基浆料固化围坝(固化温度150 ℃)。
1.2 检测设备与校准
外观:Olympus DSX1000超景深显微镜(分辨率0.2 µm,每季度用NIST可追溯栅格板校准)。
力学:Dage 4000Plus 推拉力测试机(传感器0.1 N,每年用2 kg标准砝码校准)。
热学:Anter QuickLine-10 激光闪射仪(热扩散系数±3%,用Pyroceram 9606标样验证)。
电学:FAI 6000 飞针测试机(最小探针50 µm,每班用短路/开路标准板自检)。
气密:Pfeiffer ASM 340 氦质谱仪(最小漏率5×10⁻¹¹ Pa·m³·s⁻¹,每日用标准漏孔10⁻⁹ Pa·m³·s⁻¹校准)。

1.3 术语与符号
剥离强度σₚ:单位宽度剥离力,N·mm⁻¹。
热阻Rθ:稳态一维热流法测得,K·W⁻¹。
气密等级L:氦漏率≤1×10⁻⁸ Pa·m³·s⁻¹为Grade A,>1×10⁻⁸ 且 ≤1×10⁻⁶ 为Grade B。
2 结构分析
2.1 外观缺陷六分类(章2.1,条2.1.1–2.1.6)
表1 96%Al₂O₃ DBC基板外观抽检结果(n=500)
缺陷类型计数占比尺寸分布来源工序
裂纹30.6%长度0.5–2 mm激光划片
孔洞71.4%直径≤0.1 mm生瓷流延
气泡122.4%直径0.05–0.3 mmCu-陶瓷键合
脱层51.0%面积≤0.2 mm²高温烧结
划痕183.6%深度≤5 µm磨刷清洗
污渍91.8%可擦除人手接触
2.2 力学性能对比(章2.2)
条2.2.1 剥离强度
段1:TPC-Cu/Al₂O₃,σₚ=6.8±0.3 N·mm⁻¹(n=30)。
段2:DBC-Cu/Al₂O₃,σₚ=5.9±0.4 N·mm⁻¹(n=30)。
段3:DPC-Cu/Al₂O₃,σₚ=2.1±0.2 N·mm⁻¹(n=30)。
列项说明:
a) 高温工艺(TPC/DBC)形成CuAlO₂过渡层,厚度80–120 nm,XPS检出Cu–O–Al键能532.1 eV;
b) DPC室温沉积,界面仅见Cu–Cu键,HRTEM未观测到过渡层。
条2.2.2 围坝剪切强度
HTCC围坝/Al₂O₃:τ=42±3 MPa(n=20),断口位于陶瓷;
浆料固化围坝/Al₂O₃:τ=18±2 MPa(n=20),断口位于胶层。
2.3 热学结构分析(章2.3)
段1:AlN基板体热阻Rθ,b=0.085 K·W⁻¹(25 ℃,ASTM E1461)。
段2:DBC-Cu/AlN界面热阻Rθ,i=0.012 K·W⁻¹,占总热阻12.4%。
列项降低热阻措施:
① Cu表面粗糙度Ra从0.8 µm降至0.2 µm,Rθ,i降低18%;
② 键合温度从1065 ℃升至1085 ℃,过渡层CuAlO₂增厚30 nm,Rθ,i再降7%。
2.4 电学通孔缺陷(章2.4)
条2.4.1 X-ray与飞针对比
表2 DPC-AlN微孔(φ50 µm)检测结果
方法检出未填实检出气孔误报率耗时/板
X-ray(2D)8/1006/1004%15 s
飞针四线法12/10010/1000%180 s
2.5 气密性案例(章2.5)
三维围坝腔体(10 mm×10 mm×2 mm)采用Ag-Cu-Ti焊料,盖板Kovar,氦质谱检漏:
样品A(HTCC围坝):L=3×10⁻¹⁰ Pa·m³·s⁻¹,Grade A;
样品B(浆料固化围坝):L=2×10⁻⁷ Pa·m³·s⁻¹,Grade B。
2.6 可靠性加速实验(章2.6)
条2.6.1 高温存储(150 ℃,1000 h)
TPC-Cu/Al₂O₃:σₚ保持率96%,断口形貌无变化;
DPC-Cu/Al₂O₃:σₚ保持率78%,SEM发现界面微裂纹密度从0.2 mm⁻¹增至1.1 mm⁻¹。
条2.6.2 热循环(-55 ℃↔150 ℃,1000 cyc)
AlN-DBC基板:翘曲度Δwarpage<30 µm(初始25 µm),满足<50 µm 规范;
微孔电阻变化率ΔR/R₀<2%,满足<5% 规范。
3 结论
(1) 建立“六类性能-四阶细化”检测框架,填补标准空白;TPC、DBC、DPC三类基板剥离强度差异显著,可作为工艺鉴别的指纹指标。
(2) 界面过渡层厚度与热阻呈线性负相关(R²=0.92),为工艺窗口优化提供量化依据。
(3) 飞针测试对微孔缺陷检出率比2D X-ray提高50%,建议在线检测采用“X-ray快速筛查+飞针抽检”双轨制。
(4) HTCC围坝气密性比浆料固化围坝高3个数量级,适用于航天级封装;消费级产品可选用浆料固化方案以降低成本30%。
(5) 建议下一步组建行业联盟,将本研究数据转化为《陶瓷基板性能检测规范》团体标准,优先纳入剥离强度、热阻、气密性三项关键指标。