
1 范围
本文件规定了陶瓷材料热导率的工艺调控方法,包括实验过程、数据采集及术语定义。适用于高热导率基板材料与低热导率热障涂层的制备与结构分析。
2 术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
2.1
本征热导率
由材料晶体结构决定的、无缺陷单晶的理论热传导能力。
2.2
气孔率
材料中孔隙体积占总体积的百分比。
2.3
第二相
基体以外存在的其他结晶相或非晶相,如烧结助剂生成的硅酸盐相或残余金属相。
3 实验过程与数据采集
3.1 样品制备流程
3.1.1 对于高热导率氮化铝(AlN)陶瓷,工艺步骤如下:
a) 原料处理:以平均粒径0.5μm-1.0μm的AlN粉体为原料,在手套箱中称量,防止吸潮。
b) 添加剂混合:加入3wt%-5wt%的氧化钇(Y₂O₃)作为烧结助剂,在尼龙罐中以无水乙醇为介质球磨12h。
c) 成型:经喷雾造粒后,在200MPa压力下干压成型为直径50mm的圆片。
d) 烧结:在石墨电阻炉中,于1850℃-1900℃氮气气氛下常压烧结4h。

3.1.2 对于低热导率氧化锆(ZrO₂)热障涂层,工艺步骤如下:
a) 基体准备:采用高温合金(如Inconel 738)基片,经喷砂处理使表面粗糙度达到Ra 4μm-6μm。
b) 喷涂参数:采用大气等离子喷涂设备,电流650A,电压70V,氩气流量40L/min。
c) 粉末喂料:选用8wt%氧化钇部分稳定氧化锆(8YSZ)粉末,粒径分布15μm-45μm,送粉率25g/min。
3.2 性能测试数据
3.2.1 热导率测定:采用激光闪射法(LFA 467),试样尺寸Φ12.7mm×2mm,测试温度25℃。
3.2.2 典型数据对比:
—— 高纯BeO陶瓷(99.5%):实测热导率285W/(m·K)(25℃)。
—— AlN陶瓷(添加Y₂O₃):实测热导率175W/(m·K)(25℃),若氧含量从0.5wt%降至0.1wt%,热导率可提升至210W/(m·K)。
—— 反应烧结碳化硅(Si-SiC):游离硅含量12vol%时,热导率160W/(m·K);游离硅含量增至25vol%时,热导率升至200W/(m·K)。
—— 8YSZ致密块材:热导率2.3W/(m·K);8YSZ涂层(气孔率15%):热导率1.1W/(m·K);8YSZ涂层(气孔率25%):热导率0.8W/(m·K)。
4 结构分析与应用案例
4.1 高热导率材料的显微结构控制
4.1.1 氧化铍(BeO)的晶界相控制:
案例:某批BeO产品在200℃以下热导率骤降至80W/(m·K)。经扫描电镜能谱分析发现,晶界处存在连续分布的硅酸盐玻璃相,厚度约2nm-5nm。改进工艺后,采用高纯原料(SiO₂杂质<50ppm),消除了晶界玻璃相,热导率恢复至260W/(m·K)。
4.1.2 氮化铝(AlN)的晶格氧去除:
场景:AlN晶格中固溶氧会导致铝空位,严重散射声子。实验数据显示:
a) 当氧含量为1.0wt%时,AlN热导率仅为80W/(m·K)。
b) 添加4wt%的Y₂O₃后,形成钇铝石榴石(YAG)相,将氧固定在晶界。
c) 经1850℃烧结后,晶内氧含量降至0.05wt%以下,热导率达到180W/(m·K)。
4.1.3 反应烧结碳化硅(Si-SiC)的残余硅利用:
案例:某厂生产的热交换器用SiC管材,要求热导率>170W/(m·K)。工艺调整如下:
—— 第一阶段:碳与硅在1600℃反应生成多孔SiC骨架,气孔率25%。
—— 第二阶段:在1550℃渗入熔融硅,材料含游离硅18vol%。
—— 检测结果:热导率188W/(m·K),比无压烧结SiC(125W/(m·K))高出50%。
4.2 低热导率材料的孔隙工程
4.2.1 热障涂层的孔隙形态控制:
场景:航空发动机涡轮叶片热障涂层服役温度达1200℃。涂层结构特征:
a) 扁平化颗粒堆叠:喷涂熔滴撞击基体后形成层状结构,层间存在微米级横向裂纹。
b) 纵向裂纹:通过调整喷涂参数(提高基体预热温度至300℃),产生垂直裂纹,缓解热应力。
c) 孔隙率统计:图像分析显示,优化后涂层总气孔率22%,其中:
—— 球形气孔(直径<5μm):占孔隙总量35%,由未熔颗粒形成。
—— 扁平状孔隙(长径比>5):占孔隙总量65%,有效切断热流路径。
测试表明,该结构使热导率从致密材料的2.3W/(m·K)降至0.95W/(m·K)。
4.2.2 气孔尺寸效应实例:
两组样品对比:
—— 样品A:平均气孔直径50μm,气孔率60%,热导率0.25W/(m·K)。
—— 样品B:平均气孔直径5μm,气孔率60%,热导率0.18W/(m·K)。
数据分析:细气孔样品热导率降低28%,归因于细孔内空气对流效应减弱(Gr数降低一个数量级)。
5 结论与统计数据
5.1 高热导率优化结果
对AlN材料进行20组工艺对比试验,统计结论如下:
—— 当晶界第二相覆盖率从80%降至10%时,热导率从95W/(m·K)提升至185W/(m·K)。
—— 当氧含量从0.8wt%降至0.2wt%时,热导率提升幅度达92%。
—— Si-SiC材料中,游离硅含量每增加5vol%,热导率约提升15W/(m·K),但抗弯强度下降22%。
5.2 低热导率优化结果
针对ZrO₂涂层统计:
—— 气孔率在5%-25%范围内,热导率与气孔率呈线性负相关:λ = 2.1 - 0.052P(其中P为气孔率百分数)。
—— 当气孔率超过40%时,材料抗热震循环次数从1000次(1250℃⇌25℃)降至200次以下。
—— 采用纤维毡结构(密度0.3g/cm³,气孔率85%)时,热导率低至0.04W/(m·K),但压缩强度仅0.5MPa。
5.3 工艺总结
5.3.1 高热导率材料的必备条件:
a) 主晶相本征热导率>150W/(m·K)。
b) 晶界相厚度<1nm或晶界相呈孤立岛状分布。
c) 气孔率<2%。
d) 晶格杂质(如氧)含量<0.1wt%。
5.3.2 低热导率材料的必备条件:
a) 主晶相本征热导率<5W/(m·K)。
b) 气孔率>20%,且气孔以扁平状或层间裂纹形态存在。
c) 孔径控制在亚微米级至5μm区间。
d) 固体骨架呈非连续分布,接触热阻大。(更多资讯请关注先进材料应用公众号哦!)